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2012-07Asbestos concentration measurement using differential interference contrast microscopyZarubiieva, I.; Lee, J.S.; Hwang, G.B.; Bae, G.-N.; Shin, J.C.; Kim, D.G.; Lee, T.J.; Lee, H.J.; Woo, D.H.; Lee, S.; Cho, M.-O.; Kim, J.K.; Jun, S.C.; Kim, J.H.
2003-08Transient behavior of self-assembled quantum dots formed by atomic layer epitaxy techniquePark, Y.M.; Park, Y.J.; Kim, K.M.; Shin, J.C.; Song, J.D.; Lee, J.I.; Yoo, K.-H.
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