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Issue Date | Title | Author(s) |
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- | Quantitative Analysis of Metal Alloy by TOF-SIMS Depth Profiling | LIM, WEON CHEOL; Lee Ji-hye; LEE, YEON HEE |
2009-03 | 이차이온질량분석기(SIMS)를 이용한 표면분석 | 이연희 |
1998-08 | 표면 조성분석의 정량화를 위한 Pt-Co 합금박막 표준시료의 개발 및 공동분석 | 김경중; 문대원; 한명섭; 강희재; 김준곤; 한승희; 이중환; 윤선진; 신광수; 김차연; 김태형; 이동석; 김영남; 최홍민; 김경원; 홍태은 |
2009-05 | 화학분석센터 | LEE, YEON HEE; LEE, KANG BONG; PARK, HYUN MEE; Ahn, Hee-Chul; PARK, KYUNG SU; CHA, JOO HWAN; Won, Sung Ok; LEE, KI SOO; LIM, WEON CHEOL; NAM, YUN SIK; BAIG, SEUNG WOO |