형광 나노 실리카 입자를 이용한 멤브레인 표면 손상 탐지 기술개발

Title
형광 나노 실리카 입자를 이용한 멤브레인 표면 손상 탐지 기술개발
Authors
심규환김기팔조진우
Keywords
형광나노입자; 분리막; 표면검측; 검측시스템; integrity
Issue Date
2009-04
Publisher
대한환경공학회 춘계학술발표회
URI
http://pubs.kist.re.kr/handle/201004/36520
Appears in Collections:
KIST Publication > Conference Paper
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