형광 입자를 이용한 분리막 모듈의 손상 탐지방법

Title
형광 입자를 이용한 분리막 모듈의 손상 탐지방법
Authors
김기팔송경근심규환안규홍조진우
Issue Date
2009-06-17
Publisher
한국과학기술연구원
Abstract
본 발명에 따른 분리막 모듈의 손상을 탐지하는 방법은 실리카로부터 0.5 ∼ 1.5㎛ 크기의 형광입자를 준비하는 단계; 하·폐수 처리 공정에 사용되는 분리막 모듈의 내부에 상기 형광 입자를 0 mg/ml 농도 초과 0.1 mg/ml 농도 이하로 주입하는 단계; 상기 분리막 모듈에 손상이 있는 경우 상기 분리막 모듈 내부에 주입된 형광 입자가 분리막 모듈의 외부로 누출될 정도의 압력이 가해지도록 펌프를 작동시키는 단계; 상기 분리막 모듈의 디지털 이미지를 획득하여 디지털 이미지화하는 단계; 및 상기 디지털 이미지로부터 발색 부분과 발색되지 않은 부분을 구별하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따르면, 개별 분리막의 탈착 없이 형광 입자를 주입하여 수처리 반응조에 장착된 분리막 모듈에 손상이 있는지 여부를 확인할 수 있는 바, 분리막의 탈착에 소요되는 인력 및 비용을 효과적으로 절감할 수 있을 뿐 아니라, 분리막 모듈의 손상 여부 및 손상 부위를 정확하게 탐지할 수 있다.
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KIST Patent > 2009
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