개방단말 동축선 프로브를 이용한 매질의 전기적 특성 측정장치

Title
개방단말 동축선 프로브를 이용한 매질의 전기적 특성 측정장치
Authors
김세윤이정학정지현
Issue Date
2008-07-30
Publisher
한국과학기술연구원
Abstract
본 발명은 매질에서 반사되는 전자파를 탐지하는 탐지기와, 상기 탐지기와 전기적으로 연결되어, 상기 전자파의 반사 정도를 측정하는 분석기, 및 상기 탐지기와 결합하고 상기 탐지기의 일면을 상기 매질을 향해 가압하도록 형성되는 가압모듈을 포함하는 매질의 전기적 특성 측정 장치를 제공한다.
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KIST Patent > 2008
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