광학을이용한온도측정장치

Title
광학을이용한온도측정장치
Issue Date
1992-04-15
Publisher
한국과학기술연구원
Abstract
본 발명은 주파수 발생원리에 따라 형광물질의 여기동작을 제어하여, 그 형광 물질의 여기주기에 따른 주파수를 측정함으로써 온도를 측정할 수 있게한 광학을 이용한 온도 측정장치에 관한것으로, 종래에는 형광의 빛 세기가 감쇄하기 시작한 직후의 형광의 빛 세기를 측정하고, 그 세기에 대하여 일정한 비율로 형광의 빛 세기가 줄어든 때의 시간을 측정하여 두 측정위치의 시간차를 구하고, 그 시간차로부터 온도를 산출하게 되므로, 그의 구조가 복잡하여 질뿐만 아니라 그 산출 과정이 복잡하였다.이러한 점을 감안하여, 비교전압을 기준전압과 비교하는 비교기와, 이 비교기의 출력 신호에 따라 여기광을 발생하는 광원과, 이 광원에서 발생되는 여기광에 의해 여기되어 형광을 발생하는 형광물질과, 이 형광 물질에서 발생되는 형광을 전기적인 신호로 검출한 후 증폭하여 상기 비교기에 비교전압으로 인가하는 광검지기와, 상기 비교기의 출력신호로부터 주파수를 측정한 후 온도를 산출하는 주파수 측정 및 연산 장치로 온도측정장치를 구성함으로써 그의 구성이 간단하여지고, 그 온도 연산과정이 간단해지게 된다.
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KIST Patent > ETC
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