다중슬릿광을이용한3차원형상의자동측정방법

Title
다중슬릿광을이용한3차원형상의자동측정방법
Issue Date
1994-07-14
Publisher
한국과학기술연구원
Abstract
본 발명은 슬릿광을 이용하여 3차원 자유곡면형상을 고속으로 측정하는 3차원형상의 자동측정방법에 관한 것이다. 본 발명은 단일 슬릿광 대신에 여러개의 직선이 일정간격으로 형성된 격자를 투영하여 얻어지는 다중 슬릿광을 이용하여 3차원형상을 자동으로 측정함에 있어 정밀 이송장치를 이용하여 슬릿광 투사기에서 일정간격으로 격자를 이송하면서 측정데이타를 보간함에 의해 3차원형상을 자동으로 측정하는 방법이다. 본 발명은 화상획득속도가 기존의 방법에 비해 월등하게 빠르기 때문에 인물두상이나 인체의 일부분과 같이 장시간에 걸쳐 고정된 상태를 유지하기 어려운 측정대상물의 측정에 효과적이다.
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KIST Patent > ETC
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