Shim Kyu-hwan Kim Ki Pal CHO, JIN WOO 2024-01-13T01:03:14Z 2024-01-13T01:03:14Z 2021-09-29 2009-04 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/100768 형광나노입자 분리막 표면검측 검측시스템 integrity 형광 나노 실리카 입자를 이용한 멤브레인 표면 손상 탐지 기술개발 Conference 2 대한환경공학회 춘계학술발표회 대한환경공학회 춘계학술발표회 KO