KIM CHUN KEUN 김익수 최훈상 Kim Seong Il 이창우 Kim Yong Tae 2024-01-13T12:31:39Z 2024-01-13T12:31:39Z 2021-09-29 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/106794 English Bi 층상구조 수소열처리 수소열화 쿠리온도 계면트랩농도 이리듐전극 hydrogen annealing Bi-layered perovskite interface trap curie temperature Effect of hydrogen annealing on electrical properties of Bi-layered perovskite thin films Bi 층상 페로브스카이트 박막의 전기적 특성에 미치는 수소 열처리효과 Conference 1 2002 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD2, pp.155 - 158 2002 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD2 155 158 JA