Ha Sung Do HWANG IN-SHIK 2024-01-13T17:02:27Z 2024-01-13T17:02:27Z 2021-09-29 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/109241 English 검사 계획 Development of feature-based intelligent inspection planning system for CMM CMM 을 이용한 특징형상 기반 지능형 검사계획 시스템 개발 Conference 2 한국정밀공학회 '99 년도 춘계학술대회논문집, pp.1086 - 1091 한국정밀공학회 '99 년도 춘계학술대회논문집 1086 1091 KO