홍순관 Ju Byeong Kwon 김철주 2024-01-13T23:34:04Z 2024-01-13T23:34:04Z 2021-09-29 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/112801 English Elimination of hole traps on Si wafer using reoxidation method Reoxidatoin법을 이용한 Si wafer의 hole trap의 제거 Conference 2 전자공학회 하계종합학술대회, 포항공대, pp.433 - 435 전자공학회 하계종합학술대회, 포항공대 433 435 KO