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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Choi,&#x20;Byung&#x20;Joon</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Han,&#x20;Jeong&#x20;Hwan</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Chung,&#x20;Taek-Mo</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Hwang,&#x20;Cheol&#x20;Seong</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Seong&#x20;Keun</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-19T20:04:24Z</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">A&#x20;new&#x20;deposition&#x20;technique&#x20;is&#x20;required&#x20;to&#x20;grow&#x20;the&#x20;active&#x20;oxide&#x20;semiconductor&#x20;layer&#x20;for&#x20;emerging&#x20;oxide&#x20;electronics&#x20;beyond&#x20;the&#x20;conventional&#x20;sputtering&#x20;technique.&#x20;Atomic&#x20;layer&#x20;deposition&#x20;(ALD)&#x20;has&#x20;the&#x20;benefits&#x20;of&#x20;versatile&#x20;composition&#x20;control,&#x20;low&#x20;defect&#x20;density&#x20;in&#x20;films,&#x20;and&#x20;conformal&#x20;growth&#x20;over&#x20;a&#x20;complex&#x20;structure,&#x20;which&#x20;can&#x20;hardly&#x20;be&#x20;obtained&#x20;with&#x20;sputtering.&#x20;This&#x20;study&#x20;demonstrates&#x20;the&#x20;feasibility&#x20;of&#x20;growing&#x20;amorphous&#x20;In-Zn-Sn-O&#x20;(a-IZTO)&#x20;through&#x20;ALD&#x20;for&#x20;oxide&#x20;thin-film&#x20;transistor&#x20;(TFT)&#x20;applications.&#x20;In&#x20;the&#x20;ALD&#x20;of&#x20;the&#x20;a-IZTO&#x20;film,&#x20;the&#x20;growth&#x20;behavior&#x20;indicates&#x20;that&#x20;there&#x20;exists&#x20;a&#x20;growth&#x20;correlation&#x20;between&#x20;the&#x20;precursor&#x20;molecules&#x20;and&#x20;the&#x20;film&#x20;surface&#x20;where&#x20;the&#x20;ALD&#x20;reaction&#x20;occurs.&#x20;This&#x20;provides&#x20;a&#x20;detailed&#x20;understanding&#x20;of&#x20;the&#x20;ALD&#x20;process&#x20;that&#x20;is&#x20;required&#x20;for&#x20;precise&#x20;composition&#x20;control.&#x20;The&#x20;a-IZTO&#x20;film&#x20;with&#x20;In&#x2F;Zn&#x2F;Sn&#x20;=&#x20;10:70:20&#x20;was&#x20;chosen&#x20;for&#x20;high-performance&#x20;TFTs,&#x20;among&#x20;other&#x20;compositions,&#x20;regarding&#x20;the&#x20;field-effect&#x20;mobility&#x20;(mu(FE)),&#x20;turn-on&#x20;voltage&#x20;(V-on),&#x20;and&#x20;subthreshold&#x20;swing&#x20;(SS)&#x20;voltage.&#x20;The&#x20;optimized&#x20;TFT&#x20;device&#x20;with&#x20;the&#x20;a-IZTO&#x20;film&#x20;thickness&#x20;of&#x20;8&#x20;nm&#x20;revealed&#x20;a&#x20;high&#x20;performance&#x20;with&#x20;a&#x20;mu(FE)&#x20;of&#x20;22&#x20;cm(2)&#x20;V-1&#x20;s(-1),&#x20;Von&#x20;of&#x20;0.8&#x20;V-on&#x20;and&#x20;SS&#x20;of&#x20;0.15&#x20;V&#x20;dec(-1)&#x20;after&#x20;annealing&#x20;at&#x20;400&#x20;degrees&#x20;C&#x20;for&#x20;30&#x20;min.&#x20;Furthermore,&#x20;an&#x20;emerging&#x20;device&#x20;such&#x20;as&#x20;a&#x20;vertical&#x20;channel&#x20;TFT&#x20;was&#x20;demonstrated.&#x20;Thus,&#x20;the&#x20;a-IZTO&#x20;ALD&#x20;process&#x20;could&#x20;offer&#x20;promising&#x20;opportunities&#x20;for&#x20;a&#x20;variety&#x20;of&#x20;emerging&#x20;oxide&#x20;electronics&#x20;beyond&#x20;planar&#x20;TFTs.</dcvalue>
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<dcvalue element="publisher" qualifier="none">American&#x20;Chemical&#x20;Society</dcvalue>
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<dcvalue element="title" qualifier="none">High-Performance&#x20;Thin-Film&#x20;Transistors&#x20;of&#x20;Quaternary&#x20;Indium-Zinc-Tin&#x20;Oxide&#x20;Films&#x20;Grown&#x20;by&#x20;Atomic&#x20;Layer&#x20;Deposition</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">ACS&#x20;Applied&#x20;Materials&#x20;&amp;&#x20;Interfaces,&#x20;v.11,&#x20;no.16,&#x20;pp.14892&#x20;-&#x20;14901</dcvalue>
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