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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Yeon&#x20;Ju</dcvalue>
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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Yun&#x20;Jae</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Jung&#x20;Hyuk</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Choi,&#x20;Heon-Jin</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Choi,&#x20;Won&#x20;Kook</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-19T21:02:00Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-19T21:02:00Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-02</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">ZnO&#x20;nanoparticles&#x20;(NPs)&#x20;of&#x20;4-5&#x20;nm,&#x20;widely&#x20;adopted&#x20;as&#x20;an&#x20;electron&#x20;transport&#x20;layer&#x20;(ETL)&#x20;in&#x20;quantum&#x20;dot&#x20;light&#x20;emitting&#x20;diodes&#x20;(QD-LEDs),&#x20;were&#x20;synthesized&#x20;using&#x20;the&#x20;solution-precipitation&#x20;process.&#x20;It&#x20;is&#x20;notable&#x20;that&#x20;synthesized&#x20;ZnO&#x20;NPs&#x20;are&#x20;highly&#x20;degenerate&#x20;intrinsic&#x20;semiconductors&#x20;and&#x20;their&#x20;donor&#x20;concentration&#x20;can&#x20;be&#x20;increased&#x20;up&#x20;to&#x20;N-D&#x20;=&#x20;6.9&#x20;x&#x20;10(21)&#x20;cm(-3)&#x20;by&#x20;annealing&#x20;at&#x20;140&#x20;degrees&#x20;C&#x20;in&#x20;air.&#x20;An&#x20;optical&#x20;bandgap&#x20;increase&#x20;of&#x20;as&#x20;large&#x20;as&#x20;0.16-0.33&#x20;eV&#x20;by&#x20;degeneracy&#x20;is&#x20;explained&#x20;well&#x20;by&#x20;the&#x20;Burstein-Moss&#x20;shift.&#x20;In&#x20;order&#x20;to&#x20;investigate&#x20;the&#x20;influence&#x20;of&#x20;intrinsic&#x20;defects&#x20;of&#x20;ZnO&#x20;NP&#x20;ETLs&#x20;on&#x20;the&#x20;performance&#x20;of&#x20;QD-LED&#x20;devices&#x20;without&#x20;a&#x20;combined&#x20;annealing&#x20;temperature&#x20;between&#x20;ZnO&#x20;NP&#x20;ETLs&#x20;and&#x20;the&#x20;emissive&#x20;QD&#x20;layer,&#x20;pre-annealed&#x20;ZnO&#x20;NPs&#x20;at&#x20;60&#x20;degrees&#x20;C,&#x20;90&#x20;degrees&#x20;C,&#x20;140&#x20;degrees&#x20;C,&#x20;and&#x20;180&#x20;degrees&#x20;C&#x20;were&#x20;spin-coated&#x20;on&#x20;the&#x20;annealed&#x20;QD&#x20;layer&#x20;without&#x20;further&#x20;post-annealing.&#x20;As&#x20;the&#x20;annealing&#x20;temperature&#x20;increases&#x20;from&#x20;60&#x20;degrees&#x20;C&#x20;to&#x20;180&#x20;degrees&#x20;C,&#x20;the&#x20;defect&#x20;density&#x20;related&#x20;to&#x20;oxygen&#x20;vacancy&#x20;(V-O)&#x20;in&#x20;ZnO&#x20;NPs&#x20;is&#x20;reduced&#x20;from&#x20;34.4%&#x20;to&#x20;17.8%,&#x20;whereas&#x20;the&#x20;defect&#x20;density&#x20;of&#x20;interstitial&#x20;Zn&#x20;(Zn-i&#x20;)&#x20;is&#x20;increased.&#x20;Increased&#x20;Zn-i&#x20;reduces&#x20;the&#x20;width&#x20;(W)&#x20;of&#x20;the&#x20;depletion&#x20;region&#x20;from&#x20;0.21&#x20;to&#x20;0.12&#x20;nm&#x20;and&#x20;lowers&#x20;the&#x20;Schottky&#x20;barrier&#x20;(Phi(B))&#x20;between&#x20;ZnO&#x20;NPs&#x20;and&#x20;the&#x20;Al&#x20;electrode&#x20;from&#x20;1.19&#x20;to&#x20;0.98&#x20;eV.&#x20;We&#x20;reveal&#x20;for&#x20;the&#x20;first&#x20;time&#x20;that&#x20;carrier&#x20;conduction&#x20;between&#x20;ZnO&#x20;NP&#x20;ETLs&#x20;and&#x20;the&#x20;Al&#x20;electrode&#x20;is&#x20;largely&#x20;affected&#x20;by&#x20;the&#x20;concentration&#x20;of&#x20;Zn-i&#x20;above&#x20;the&#x20;conduction&#x20;band&#x20;minimum,&#x20;and&#x20;effectively&#x20;described&#x20;by&#x20;space&#x20;charge&#x20;limited&#x20;current&#x20;and&#x20;trap&#x20;charge&#x20;limited&#x20;current&#x20;models.</dcvalue>
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<dcvalue element="title" qualifier="none">Electron&#x20;transport&#x20;phenomena&#x20;at&#x20;the&#x20;interface&#x20;of&#x20;Al&#x20;electrode&#x20;and&#x20;heavily&#x20;doped&#x20;degenerate&#x20;ZnO&#x20;nanoparticles&#x20;in&#x20;quantum&#x20;dot&#x20;light&#x20;emitting&#x20;diode</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">Nanotechnology,&#x20;v.30,&#x20;no.3</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">Nanotechnology</dcvalue>
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