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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Byeong-il</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Geum,&#x20;Jong&#x20;Min</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Jung,&#x20;Eun&#x20;Sik</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kang,&#x20;Ey&#x20;Goo</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Yong-Tae</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Sung,&#x20;Man&#x20;Young</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-20T09:33:48Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-20T09:33:48Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-05</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2014-06</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">Super&#x20;junction&#x20;trench&#x20;gate&#x20;power&#x20;MOSFETs&#x20;have&#x20;been&#x20;receiving&#x20;attention&#x20;in&#x20;terms&#x20;of&#x20;the&#x20;trade-off&#x20;between&#x20;breakdown&#x20;voltage&#x20;and&#x20;on-resistance&#x20;[1].&#x20;The&#x20;vertical&#x20;structure&#x20;of&#x20;super&#x20;junction&#x20;trench&#x20;gate&#x20;power&#x20;MOSFETs&#x20;allows&#x20;the&#x20;on-resistance&#x20;to&#x20;be&#x20;reduced&#x20;compared&#x20;with&#x20;conventional&#x20;Trench&#x20;Gate&#x20;Power&#x20;MOSFETs.&#x20;The&#x20;heat&#x20;release&#x20;of&#x20;devices&#x20;is&#x20;also&#x20;decreased&#x20;with&#x20;the&#x20;reduction&#x20;of&#x20;on-resistance.&#x20;In&#x20;this&#x20;paper,&#x20;Lattice&#x20;Temperature&#x20;of&#x20;two&#x20;devices,&#x20;Trench&#x20;Gate&#x20;Power&#x20;MOSFET&#x20;and&#x20;Super&#x20;junction&#x20;trench&#x20;gate&#x20;power&#x20;MOSFET,&#x20;are&#x20;compared&#x20;in&#x20;several&#x20;temperature&#x20;circumstance&#x20;with&#x20;the&#x20;same&#x20;Breakdown&#x20;Voltage&#x20;and&#x20;Cell-pitch.&#x20;The&#x20;devices&#x20;were&#x20;designed&#x20;by&#x20;100V&#x20;Breakdown&#x20;voltage&#x20;and&#x20;measured&#x20;from&#x20;250K&#x20;Lattice&#x20;Temperature.&#x20;We&#x20;have&#x20;tried&#x20;to&#x20;investigate&#x20;how&#x20;much&#x20;temperature&#x20;rise&#x20;in&#x20;the&#x20;same&#x20;condition.&#x20;According&#x20;as&#x20;temperature&#x20;gap&#x20;between&#x20;top&#x20;of&#x20;devices&#x20;and&#x20;bottom&#x20;of&#x20;devices,&#x20;Super&#x20;junction&#x20;trench&#x20;gate&#x20;power&#x20;MOSFET&#x20;has&#x20;a&#x20;tendency&#x20;to&#x20;generate&#x20;lower&#x20;heat&#x20;release&#x20;than&#x20;Trench&#x20;Gate&#x20;Power&#x20;MOSFET.&#x20;This&#x20;means&#x20;that&#x20;Super&#x20;junction&#x20;trench&#x20;gate&#x20;power&#x20;MOSFET&#x20;is&#x20;superior&#x20;for&#x20;wide-temperature&#x20;range&#x20;operation.&#x20;When&#x20;trench&#x20;etching&#x20;process&#x20;is&#x20;applied&#x20;for&#x20;making&#x20;P-pillar&#x20;region,&#x20;trench&#x20;angle&#x20;factor&#x20;is&#x20;also&#x20;important&#x20;component.&#x20;Depending&#x20;on&#x20;trench&#x20;angle,&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;Super&#x20;junction&#x20;device&#x20;are&#x20;changed.&#x20;In&#x20;this&#x20;paper,&#x20;we&#x20;focus&#x20;temperature&#x20;characteristic&#x20;as&#x20;changing&#x20;trench&#x20;angle&#x20;factor.&#x20;Consequently,&#x20;Trench&#x20;angle&#x20;factor&#x20;don&amp;apos;t&#x20;have&#x20;a&#x20;great&#x20;effect&#x20;on&#x20;temperature&#x20;change.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">IEEK&#x20;PUBLICATION&#x20;CENTER</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Analysis&#x20;of&#x20;Lattice&#x20;Temperature&#x20;in&#x20;Super&#x20;Junction&#x20;Trench&#x20;Gate&#x20;Power&#x20;MOSFET&#x20;as&#x20;Changing&#x20;Degree&#x20;of&#x20;Trench&#x20;Etching</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.5573&#x2F;JSTS.2014.14.3.263</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">JOURNAL&#x20;OF&#x20;SEMICONDUCTOR&#x20;TECHNOLOGY&#x20;AND&#x20;SCIENCE,&#x20;v.14,&#x20;no.3,&#x20;pp.263&#x20;-&#x20;267</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">JOURNAL&#x20;OF&#x20;SEMICONDUCTOR&#x20;TECHNOLOGY&#x20;AND&#x20;SCIENCE</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">14</dcvalue>
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