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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Park,&#x20;Youn&#x20;Ho</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Koo,&#x20;Hyun&#x20;Cheol</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Chang,&#x20;Joonyeon</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Han,&#x20;Suk-Hee</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Johnson,&#x20;Mark</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;129858</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">A&#x20;variety&#x20;of&#x20;novel&#x20;experiments&#x20;involving&#x20;mesa&#x20;structures&#x20;of&#x20;a&#x20;two&#x20;dimensional&#x20;electron&#x20;system&#x20;(2DES)&#x20;require&#x20;the&#x20;fabrication&#x20;of&#x20;a&#x20;metal&#x20;electrode&#x20;on&#x20;top&#x20;of&#x20;the&#x20;mesa.&#x20;We&#x20;describe&#x20;a&#x20;fabrication&#x20;process&#x20;in&#x20;which&#x20;the&#x20;top&#x20;barrier&#x20;layer&#x20;is&#x20;thinned&#x20;to&#x20;achieve&#x20;low&#x20;interface&#x20;resistance,&#x20;and&#x20;the&#x20;effect&#x20;of&#x20;the&#x20;diminished&#x20;barrier&#x20;layer&#x20;on&#x20;the&#x20;transport&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;carriers&#x20;in&#x20;the&#x20;2DES&#x20;is&#x20;studied.&#x20;The&#x20;sample&#x20;is&#x20;an&#x20;InAs&#x20;inserted&#x20;heterostructure&#x20;with&#x20;strong&#x20;intrinsic&#x20;spin-orbit&#x20;interaction&#x20;alpha.&#x20;Shubnikov-de&#x20;Haas,&#x20;resistivity&#x20;and&#x20;Hall&#x20;experiments&#x20;are&#x20;used&#x20;to&#x20;characterize&#x20;the&#x20;carrier&#x20;density,&#x20;mobility&#x20;and&#x20;spin-orbit&#x20;interaction&#x20;of&#x20;the&#x20;carriers&#x20;and&#x20;to&#x20;compare&#x20;characteristics&#x20;with&#x20;a&#x20;sample&#x20;in&#x20;which&#x20;the&#x20;structure&#x20;is&#x20;not&#x20;altered.&#x20;Our&#x20;results&#x20;show&#x20;that&#x20;the&#x20;integrity&#x20;of&#x20;the&#x20;heterostructure&#x20;and&#x20;the&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;the&#x20;carriers&#x20;can&#x20;be&#x20;maintained&#x20;when&#x20;the&#x20;thickness&#x20;of&#x20;the&#x20;top&#x20;barrier&#x20;is&#x20;as&#x20;little&#x20;as&#x20;5&#x20;+&#x2F;-&#x20;2&#x20;nm.&#x20;(C)&#x20;2011&#x20;Elsevier&#x20;Ltd.&#x20;All&#x20;rights&#x20;reserved.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">PERGAMON-ELSEVIER&#x20;SCIENCE&#x20;LTD</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">SPIN&#x20;TRANSPORT</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">INJECTION</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">High&#x20;mobility&#x20;in&#x20;a&#x20;two&#x20;dimensional&#x20;electron&#x20;system&#x20;with&#x20;a&#x20;thinned&#x20;barrier</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1016&#x2F;j.ssc.2011.07.022</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">SOLID&#x20;STATE&#x20;COMMUNICATIONS,&#x20;v.151,&#x20;no.21,&#x20;pp.1599&#x20;-&#x20;1601</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">SOLID&#x20;STATE&#x20;COMMUNICATIONS</dcvalue>
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