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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Jin-Sang</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Park,&#x20;Hyung-Ho</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Yoon,&#x20;Seok-Jin</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">We&#x20;investigate&#x20;the&#x20;mechanism&#x20;of&#x20;the&#x20;sensitivity&#x20;enhancement&#x20;in&#x20;TiO2&#x20;hollow-hemisphere&#x20;gas&#x20;sensors.&#x20;Using&#x20;monolayer&#x20;close-packed&#x20;polystyrene&#x20;microspheres&#x20;as&#x20;a&#x20;sacrificial&#x20;template,&#x20;a&#x20;TiO2&#x20;thin&#x20;film&#x20;based&#x20;on&#x20;a&#x20;network&#x20;of&#x20;ordered&#x20;hollow&#x20;hemispheres&#x20;is&#x20;formed&#x20;by&#x20;room-temperature&#x20;sputtering&#x20;deposition&#x20;and&#x20;subsequent&#x20;calcination&#x20;at&#x20;550&#x20;degrees&#x20;C.&#x20;A&#x20;thin&#x20;film&#x20;gas&#x20;sensor&#x20;based&#x20;on&#x20;the&#x20;TiO2&#x20;hollow&#x20;hemispheres&#x20;exhibits&#x20;a&#x20;225%&#x20;change&#x20;in&#x20;its&#x20;resistance&#x20;when&#x20;exposed&#x20;to&#x20;50&#x20;ppm&#x20;CO&#x20;at&#x20;250&#x20;degrees&#x20;C,&#x20;whereas&#x20;a&#x20;gas&#x20;sensor&#x20;based&#x20;on&#x20;a&#x20;flat&#x20;TiO2&#x20;film&#x20;shows&#x20;an&#x20;85%&#x20;change.&#x20;Numerical&#x20;analysis&#x20;reveals&#x20;that&#x20;the&#x20;enhancement&#x20;of&#x20;the&#x20;gas&#x20;sensitivity&#x20;in&#x20;the&#x20;hollow-hemisphere&#x20;gas&#x20;sensor&#x20;is&#x20;simply&#x20;the&#x20;result&#x20;of&#x20;an&#x20;increase&#x20;in&#x20;the&#x20;effective&#x20;surface&#x20;area&#x20;for&#x20;the&#x20;adsorption&#x20;of&#x20;gas&#x20;molecules.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">KOREAN&#x20;INST&#x20;METALS&#x20;MATERIALS</dcvalue>
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<dcvalue element="title" qualifier="none">Mechanism&#x20;of&#x20;the&#x20;Sensitivity&#x20;Enhancement&#x20;in&#x20;TiO2&#x20;Hollow-Hemisphere&#x20;Gas&#x20;Sensors</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.3365&#x2F;eml.2010.12.135</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">ELECTRONIC&#x20;MATERIALS&#x20;LETTERS,&#x20;v.6,&#x20;no.4,&#x20;pp.135&#x20;-&#x20;139</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">ELECTRONIC&#x20;MATERIALS&#x20;LETTERS</dcvalue>
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