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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Park,&#x20;Jun-Hyuk</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Choi,&#x20;Yoon-Young</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Han-Ki</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Hyun&#x20;Hwi</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Na,&#x20;Seok-In</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-20T18:31:08Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-20T18:31:08Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-04</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2010-10-15</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;131003</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">We&#x20;investigated&#x20;the&#x20;effects&#x20;of&#x20;rapid&#x20;thermal&#x20;annealing&#x20;(RTA)&#x20;on&#x20;the&#x20;electrical,&#x20;optical,&#x20;structural,&#x20;interfacial,&#x20;and&#x20;surface&#x20;properties&#x20;of&#x20;Nb:TiO2&#x20;(NTO)-Ag-NTO&#x20;multilayer&#x20;electrodes&#x20;inserting&#x20;a&#x20;nanoscale&#x20;Ag&#x20;layer&#x20;for&#x20;application&#x20;in&#x20;organic&#x20;solar&#x20;cells&#x20;(OSCs).&#x20;Up&#x20;to&#x20;an&#x20;annealing&#x20;temperature&#x20;of&#x20;500&#x20;degrees&#x20;C,&#x20;the&#x20;resistivity&#x20;and&#x20;optical&#x20;transmittance&#x20;of&#x20;the&#x20;NTO-Ag-NTO&#x20;electrodes&#x20;were&#x20;stably&#x20;maintained&#x20;due&#x20;to&#x20;the&#x20;absence&#x20;of&#x20;Ag&#x20;outdiffusion.&#x20;The&#x20;effective&#x20;activation&#x20;of&#x20;the&#x20;Nb&#x20;in&#x20;the&#x20;NTO&#x20;layer&#x20;led&#x20;to&#x20;a&#x20;slight&#x20;decrease&#x20;in&#x20;the&#x20;resistivity&#x20;and&#x20;an&#x20;increase&#x20;in&#x20;the&#x20;band&#x20;gap&#x20;caused&#x20;by&#x20;the&#x20;Burstein-Moss&#x20;effect.&#x20;However,&#x20;increasing&#x20;the&#x20;RTA&#x20;temperature&#x20;above&#x20;600&#x20;degrees&#x20;C&#x20;resulted&#x20;in&#x20;degradation&#x20;of&#x20;the&#x20;NTO-Ag-NTO&#x20;multilayer&#x20;electrode&#x20;due&#x20;to&#x20;severe&#x20;Ag&#x20;diffusion.&#x20;Based&#x20;on&#x20;the&#x20;synchrotron&#x20;x-ray&#x20;scattering&#x20;and&#x20;x-ray&#x20;photoelectron&#x20;spectroscopy&#x20;analyses&#x20;results,&#x20;the&#x20;electrical&#x20;properties&#x20;of&#x20;the&#x20;NTO-Ag-NTO&#x20;electrodes&#x20;are&#x20;correlated&#x20;with&#x20;the&#x20;microstructure&#x20;and&#x20;interfacial&#x20;diffusion&#x20;of&#x20;each&#x20;layer.&#x20;In&#x20;addition,&#x20;it&#x20;was&#x20;found&#x20;that&#x20;the&#x20;performance&#x20;of&#x20;the&#x20;OSC&#x20;was&#x20;critically&#x20;dependent&#x20;on&#x20;the&#x20;RTA&#x20;temperature&#x20;of&#x20;the&#x20;NTO-Ag-NTO&#x20;electrodes&#x20;even&#x20;though&#x20;the&#x20;as-deposited&#x20;NTO-Ag-NTO&#x20;electrode&#x20;had&#x20;a&#x20;fairly&#x20;low&#x20;resistivity.&#x20;This&#x20;indicates&#x20;that&#x20;the&#x20;activation&#x20;of&#x20;Nb&#x20;dopants&#x20;in&#x20;the&#x20;top&#x20;NTO&#x20;layer&#x20;plays&#x20;an&#x20;important&#x20;role&#x20;in&#x20;the&#x20;extraction&#x20;of&#x20;carriers&#x20;from&#x20;the&#x20;organic&#x20;layer&#x20;to&#x20;the&#x20;anode&#x20;(NTO-Ag-NTO)&#x20;electrode.&#x20;(C)&#x20;2010&#x20;American&#x20;Institute&#x20;of&#x20;Physics.&#x20;[doi:10.1063&#x2F;1.3499282]</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">AMER&#x20;INST&#x20;PHYSICS</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">TRANSPARENT&#x20;CONDUCTING&#x20;OXIDE</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">JOURNAL&#x20;OF&#x20;APPLIED&#x20;PHYSICS,&#x20;v.108,&#x20;no.8</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">JOURNAL&#x20;OF&#x20;APPLIED&#x20;PHYSICS</dcvalue>
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