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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Park,&#x20;Ji&#x20;Hun</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Byun,&#x20;Dong&#x20;Jin</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Joong&#x20;Kee</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-20T20:33:08Z</dcvalue>
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<dcvalue element="date" qualifier="issued">2009-10</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">The&#x20;electrical,&#x20;optical,&#x20;structural&#x20;and&#x20;chemical&#x20;bonding&#x20;properties&#x20;of&#x20;fluorine-doped&#x20;tin&#x20;oxide&#x20;(SnOx:F)&#x20;films&#x20;deposited&#x20;on&#x20;a&#x20;plastic&#x20;substrate&#x20;prepared&#x20;by&#x20;Electron&#x20;Cyclotron&#x20;Resonance-Metal&#x20;Organic&#x20;Chemical&#x20;Vapor&#x20;Deposition&#x20;(ECR-MOCVD)&#x20;were&#x20;investigated&#x20;with&#x20;special&#x20;attention&#x20;to&#x20;the&#x20;process&#x20;parameters&#x20;such&#x20;as&#x20;the&#x20;H-2&#x2F;TMT&#x20;mole&#x20;ratio,&#x20;deposition&#x20;time&#x20;and&#x20;amount&#x20;of&#x20;fluorine-doping.&#x20;The&#x20;four&#x20;point&#x20;probe&#x20;method,&#x20;UV&#x20;visible&#x20;spectroscopy,&#x20;scanning&#x20;electron&#x20;microscopy&#x20;(SEM),&#x20;transmission&#x20;electron&#x20;microscopy&#x20;(TEM),&#x20;atomic&#x20;emission&#x20;spectroscopy&#x20;(AES),&#x20;X-Ray&#x20;diffraction&#x20;(XRD)&#x20;and&#x20;X-ray&#x20;photoelectron&#x20;spectroscopy&#x20;(XPS)&#x20;were&#x20;employed&#x20;to&#x20;characterize&#x20;the&#x20;films.&#x20;Based&#x20;on&#x20;our&#x20;experimental&#x20;results,&#x20;the&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;the&#x20;SnOx:F&#x20;thin&#x20;films&#x20;were&#x20;significantly&#x20;affected&#x20;by&#x20;the&#x20;process&#x20;parameters&#x20;mentioned&#x20;above.&#x20;The&#x20;amount&#x20;of&#x20;fluorine&#x20;doping&#x20;was&#x20;found&#x20;to&#x20;be&#x20;one&#x20;of&#x20;the&#x20;major&#x20;parameters&#x20;affecting&#x20;the&#x20;surface&#x20;resistivity,&#x20;however&#x20;its&#x20;excess&#x20;doping&#x20;into&#x20;SnO2&#x20;lead&#x20;to&#x20;a&#x20;sharp&#x20;increase&#x20;in&#x20;the&#x20;surface&#x20;resistivity.&#x20;The&#x20;average&#x20;transmittance&#x20;decreased&#x20;with&#x20;increasing&#x20;film&#x20;thickness.&#x20;The&#x20;lowest&#x20;electrical&#x20;resistivity&#x20;of&#x20;5.0&#x20;x&#x20;10(-3)&#x20;a&quot;broken&#x20;vertical&#x20;bar(.)cm&#x20;and&#x20;highest&#x20;optical&#x20;transmittance&#x20;of&#x20;90%&#x20;in&#x20;the&#x20;visible&#x20;wavelength&#x20;range&#x20;from&#x20;380&#x20;to700&#x20;nm&#x20;were&#x20;observed&#x20;at&#x20;an&#x20;H-2&#x2F;TMT&#x20;mole&#x20;ratio&#x20;of&#x20;1.25,&#x20;fluorine-doping&#x20;amount&#x20;of&#x20;1.3&#x20;wt.%,&#x20;and&#x20;deposition&#x20;time&#x20;of&#x20;30&#x20;min.&#x20;From&#x20;the&#x20;XRD&#x20;analysis,&#x20;we&#x20;found&#x20;that&#x20;the&#x20;SnOx:F&#x20;films&#x20;were&#x20;oriented&#x20;along&#x20;the&#x20;(2&#x20;1&#x20;1)&#x20;plane&#x20;with&#x20;a&#x20;tetragonal&#x20;and&#x20;polycrystalline&#x20;structure&#x20;having&#x20;the&#x20;lattice&#x20;constants,&#x20;a&#x20;=&#x20;0.4749&#x20;and&#x20;c&#x20;=&#x20;0.3198&#x20;nm.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">SPRINGER</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1007&#x2F;s10832-008-9522-2</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">JOURNAL&#x20;OF&#x20;ELECTROCERAMICS,&#x20;v.23,&#x20;no.2-4,&#x20;pp.506&#x20;-&#x20;511</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">JOURNAL&#x20;OF&#x20;ELECTROCERAMICS</dcvalue>
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