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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Sang&#x20;Woo</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Jung&#x20;Hwan</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-20T21:33:40Z</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">Gigahertz&#x20;frequency&#x20;characteristics&#x20;were&#x20;appraised&#x20;by&#x20;theoretical&#x20;calculation&#x20;based&#x20;on&#x20;a&#x20;modified&#x20;Landau-Lifshitz-Gilbert&#x20;equation&#x20;in&#x20;order&#x20;to&#x20;examine&#x20;the&#x20;effect&#x20;of&#x20;electromagnetic&#x20;induction&#x20;and&#x20;artificially&#x20;controlled&#x20;shape&#x20;anisotropy&#x20;in&#x20;micropatterned&#x20;magnetic&#x20;films.&#x20;Electromagnetic&#x20;loss&#x20;behaviors&#x20;and&#x20;magnetic&#x20;fields&#x20;of&#x20;semiconducting&#x20;soft&#x20;magnetic&#x20;films&#x20;on&#x20;a&#x20;coplanar&#x20;transmission&#x20;line&#x20;were&#x20;numerically&#x20;analyzed&#x20;using&#x20;a&#x20;finite-element&#x20;based&#x20;electromagnetic&#x20;solver.&#x20;The&#x20;combined&#x20;relative&#x20;permeability&#x20;due&#x20;to&#x20;the&#x20;electromagnetic&#x20;induction&#x20;and&#x20;demagnetizing&#x20;effect&#x20;showed&#x20;to&#x20;be&#x20;highly&#x20;dependent&#x20;on&#x20;electrical&#x20;resistivity&#x20;and&#x20;film&#x20;thickness.&#x20;Higher&#x20;resistivity&#x20;films&#x20;at&#x20;the&#x20;same&#x20;thickness&#x20;of&#x20;2&#x20;mu&#x20;m&#x20;showed&#x20;higher&#x20;loss&#x20;in&#x20;power&#x20;and&#x20;lower&#x20;reflection&#x20;because&#x20;of&#x20;the&#x20;reduced&#x20;electromagnetic&#x20;induction.&#x20;Thinner&#x20;magnetic&#x20;films&#x20;at&#x20;the&#x20;same&#x20;resistivity&#x20;of&#x20;100&#x20;mu&#x20;Omega&#x20;cm&#x20;exhibited&#x20;lower&#x20;reflection&#x20;due&#x20;to&#x20;the&#x20;reduced&#x20;electromagnetic&#x20;induction&#x20;and&#x20;maxima&#x20;of&#x20;the&#x20;reflection&#x20;shifted&#x20;to&#x20;higher&#x20;frequencies&#x20;because&#x20;of&#x20;demagnetization&#x20;associated&#x20;with&#x20;the&#x20;structure&#x20;of&#x20;magnetic&#x20;flux&#x20;path.&#x20;A&#x20;severe&#x20;increment&#x20;of&#x20;the&#x20;radiated&#x20;electromagnetic&#x20;noise&#x20;with&#x20;decreasing&#x20;resistivity&#x20;was&#x20;caused&#x20;by&#x20;the&#x20;reflection&#x20;of&#x20;the&#x20;radiated&#x20;noise&#x20;from&#x20;the&#x20;surface&#x20;of&#x20;the&#x20;low&#x20;resistivity&#x20;films&#x20;on&#x20;the&#x20;coplanar&#x20;line&#x20;in&#x20;gigahertz&#x20;frequency&#x20;bands.&#x20;A&#x20;slight&#x20;increase&#x20;in&#x20;the&#x20;radiation&#x20;noise&#x20;with&#x20;increasing&#x20;thickness&#x20;at&#x20;the&#x20;same&#x20;resistivity&#x20;confirmed&#x20;to&#x20;be&#x20;caused&#x20;by&#x20;the&#x20;increased&#x20;reflection.&#x20;(C)&#x20;2009&#x20;American&#x20;Institute&#x20;of&#x20;Physics.&#x20;[DOI:&#x20;10.1063&#x2F;1.3073957]</dcvalue>
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<dcvalue element="publisher" qualifier="none">AMER&#x20;INST&#x20;PHYSICS</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">NOISE-SUPPRESSOR</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Estimation&#x20;of&#x20;high-frequency&#x20;loss&#x20;properties&#x20;through&#x20;analytical&#x20;calculation&#x20;for&#x20;semiconducting&#x20;soft&#x20;magnetic&#x20;films&#x20;in&#x20;a&#x20;near-field&#x20;electromagnetic&#x20;wave</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">JOURNAL&#x20;OF&#x20;APPLIED&#x20;PHYSICS,&#x20;v.105,&#x20;no.7</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">JOURNAL&#x20;OF&#x20;APPLIED&#x20;PHYSICS</dcvalue>
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