<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="no"?>
<dublin_core schema="dc">
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kang,&#x20;KyongTae</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Il-Doo</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lim,&#x20;Mi-Hwa</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;Ho-Gi</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Hong,&#x20;Jae-Min</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T00:01:29Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-21T00:01:29Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-03</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2008-01-30</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">0040-6090</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;133811</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">We&#x20;report&#x20;on&#x20;the&#x20;dielectric&#x20;properties&#x20;and&#x20;leakage&#x20;current&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;3&#x20;mol%&#x20;Mn-doped&#x20;Ba0.6Sr0.4TiO3&#x20;(BST)&#x20;thin&#x20;films&#x20;post-annealed&#x20;up&#x20;to&#x20;600&#x20;degrees&#x20;C&#x20;following&#x20;room&#x20;temperature&#x20;deposition.&#x20;The&#x20;suitability&#x20;of&#x20;3&#x20;mol%&#x20;Mn-doped&#x20;EST&#x20;films&#x20;as&#x20;gate&#x20;insulators&#x20;for&#x20;low&#x20;voltage&#x20;ZnO&#x20;thin&#x20;film&#x20;transistors&#x20;(TFTs)&#x20;is&#x20;investigated.&#x20;The&#x20;dielectric&#x20;constant&#x20;of&#x20;3&#x20;mol%&#x20;Mn-doped&#x20;BST&#x20;films&#x20;increased&#x20;from&#x20;24&#x20;at&#x20;in-situ&#x20;deposition&#x20;up&#x20;to&#x20;260&#x20;at&#x20;an&#x20;annealing&#x20;temperature&#x20;of&#x20;600&#x20;degrees&#x20;C&#x20;due&#x20;to&#x20;increased&#x20;crystallinity&#x20;and&#x20;the&#x20;formation&#x20;of&#x20;perovskite&#x20;phase.&#x20;The&#x20;measured&#x20;leakage&#x20;current&#x20;density&#x20;of&#x20;2&#x20;3&#x20;mol%&#x20;Mn-doped&#x20;BST&#x20;films&#x20;remained&#x20;on&#x20;the&#x20;order&#x20;of&#x20;5&#x20;x&#x20;10(-9)&#x20;to&#x20;10(-8)&#x20;A&#x2F;cm(2)&#x20;without&#x20;further&#x20;reduction&#x20;as&#x20;the&#x20;annealing&#x20;temperature&#x20;increased,&#x20;thereby&#x20;demonstrating&#x20;significant&#x20;improvement&#x20;in&#x20;the&#x20;leakage&#x20;current&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;in-situ&#x20;grown&#x20;Mn-doped&#x20;BST&#x20;films&#x20;as&#x20;compared&#x20;to&#x20;that&#x20;(5&#x20;x&#x20;10(-4)&#x20;A&#x2F;cm(2)&#x20;at&#x20;5&#x20;V)&#x20;of&#x20;pure&#x20;BST&#x20;films.&#x20;All&#x20;room&#x20;temperature&#x20;processed&#x20;ZnO-TFTs&#x20;using&#x20;a&#x20;3&#x20;mol%&#x20;Mn-doped&#x20;BST&#x20;gate&#x20;insulator&#x20;exhibited&#x20;a&#x20;field&#x20;effect&#x20;mobility&#x20;of&#x20;1.0&#x20;cm(2)&#x2F;Vs&#x20;and&#x20;low&#x20;voltage&#x20;device&#x20;performance&#x20;of&#x20;less&#x20;than&#x20;7&#x20;V&#x20;(C)&#x20;2007&#x20;Elsevier&#x20;B.V.&#x20;All&#x20;rights&#x20;reserved.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">ELSEVIER&#x20;SCIENCE&#x20;SA</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">ELECTRICAL-PROPERTIES</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">ORGANIC&#x20;TRANSISTORS</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">IMPROVEMENT</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Annealing&#x20;effect&#x20;on&#x20;dielectric&#x20;and&#x20;leakage&#x20;current&#x20;characteristics&#x20;of&#x20;Mn-doped&#x20;Ba0.6Sr0.4TiO3&#x20;thin&#x20;films&#x20;as&#x20;gate&#x20;insulators&#x20;for&#x20;low&#x20;voltage&#x20;ZnO&#x20;thin&#x20;film&#x20;transistor</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1016&#x2F;j.tsf.2007.05.068</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">THIN&#x20;SOLID&#x20;FILMS,&#x20;v.516,&#x20;no.6,&#x20;pp.1218&#x20;-&#x20;1222</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">THIN&#x20;SOLID&#x20;FILMS</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">516</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="number">6</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="startPage">1218</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="endPage">1222</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scie</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scopus</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="wosid">000252980400055</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="scopusid">2-s2.0-37349113175</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Materials&#x20;Science,&#x20;Multidisciplinary</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Materials&#x20;Science,&#x20;Coatings&#x20;&amp;&#x20;Films</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Physics,&#x20;Applied</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Physics,&#x20;Condensed&#x20;Matter</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Materials&#x20;Science</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Physics</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="docType">Article</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">ELECTRICAL-PROPERTIES</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">ORGANIC&#x20;TRANSISTORS</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">IMPROVEMENT</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">zinc&#x20;oxide&#x20;transistor</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">gate&#x20;insulator</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Mn&#x20;doping</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">barium&#x20;strontium&#x20;titanate</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">electrical&#x20;properties&#x20;and&#x20;measurements</dcvalue>
</dublin_core>
