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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Cho,&#x20;K.-H.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kang,&#x20;C.-Y.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Yoon,&#x20;S.-J.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;H.-J.</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T01:00:16Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-21T01:00:16Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-02</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2007-07</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">1225-0562</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;134288</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">The&#x20;dielectric&#x20;properties&#x20;of&#x20;(Ba0.5&#x20;Sr0.5)TiO3&#x20;ferroelectric&#x20;thin&#x20;films&#x20;have&#x20;been&#x20;investigated&#x20;according&#x20;to&#x20;the&#x20;substrates&#x20;in&#x20;order&#x20;to&#x20;optimize&#x20;the&#x20;their&#x20;properties.&#x20;MgO,&#x20;r-plane&#x20;sapphire,&#x20;and&#x20;poly-crystalline&#x20;sapphire&#x20;(Alumina)&#x20;substrates&#x20;have&#x20;been&#x20;used&#x20;to&#x20;deposite&#x20;(Ba0.5&#x20;Sr0.5)TiO3&#x20;ferroelectric&#x20;thin&#x20;films&#x20;by&#x20;RF&#x20;magnetron&#x20;sputtering.&#x20;The&#x20;BST&#x20;thin&#x20;films&#x20;deposited&#x20;on&#x20;the&#x20;single&#x20;crystal&#x20;(100)MgO&#x20;substrates&#x20;have&#x20;high&#x20;tunability&#x20;and&#x20;low&#x20;dielectric&#x20;loss.&#x20;These&#x20;results&#x20;are&#x20;caused&#x20;by&#x20;a&#x20;low&#x20;misfit&#x20;between&#x20;the&#x20;lattice&#x20;parameters&#x20;of&#x20;the&#x20;BST&#x20;films&#x20;and&#x20;the&#x20;substrate.&#x20;The&#x20;BST&#x20;films&#x20;deposited&#x20;on&#x20;r-plane&#x20;sapphire&#x20;have&#x20;relatively&#x20;high&#x20;misfit,&#x20;and&#x20;the&#x20;tunability&#x20;of&#x20;17%&#x20;and&#x20;dielectric&#x20;loss&#x20;of&#x20;0.0007.&#x20;To&#x20;improve&#x20;the&#x20;dielectric&#x20;properties&#x20;of&#x20;the&#x20;BST&#x20;films,&#x20;the&#x20;post-annealing&#x20;methods&#x20;has&#x20;been&#x20;introduced.&#x20;The&#x20;BST&#x20;films&#x20;deposited&#x20;on&#x20;(100)MgO,&#x20;(1102)r-plane&#x20;sapphire,&#x20;and&#x20;poly-crystalline&#x20;sapphire&#x20;substrates&#x20;have&#x20;best&#x20;properties&#x20;in&#x20;post-annealing&#x20;conditions&#x20;of&#x20;1050°C,&#x20;1100°C,&#x20;and&#x20;1150°C,&#x20;respectively.&#x20;The&#x20;different&#x20;optimal&#x20;post-annealing&#x20;conditions&#x20;have&#x20;been&#x20;found&#x20;according&#x20;to&#x20;the&#x20;different&#x20;misfits&#x20;between&#x20;the&#x20;films&#x20;and&#x20;substrates,&#x20;and&#x20;thermal&#x20;expansion&#x20;coefficients.&#x20;Moreover,&#x20;the&#x20;films&#x20;deposited&#x20;on&#x20;alumina&#x20;substrate&#x20;which&#x20;is&#x20;relatively&#x20;cheap&#x20;have&#x20;a&#x20;good&#x20;tunability&#x20;properties&#x20;of&#x20;23%&#x20;by&#x20;the&#x20;post-annealing.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">Korean</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">Materials&#x20;Research&#x20;Society&#x20;of&#x20;Korea</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Microwave&#x20;properties&#x20;and&#x20;microstructures&#x20;of&#x20;(Ba,Sr)TiO3&#x20;thin&#x20;films&#x20;on&#x20;various&#x20;substrates&#x20;with&#x20;annealing&#x20;temperature</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.3740&#x2F;MRSK.2007.17.7.386</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">Korean&#x20;Journal&#x20;of&#x20;Materials&#x20;Research,&#x20;v.17,&#x20;no.7,&#x20;pp.386&#x20;-&#x20;389</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">Korean&#x20;Journal&#x20;of&#x20;Materials&#x20;Research</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">17</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="number">7</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="startPage">386</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="endPage">389</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="kciid">ART001083099</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="scopusid">2-s2.0-34548037253</dcvalue>
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<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">BST</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Ferroelectric</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Microwave&#x20;tunable&#x20;devices</dcvalue>
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