<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="no"?>
<dublin_core schema="dc">
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;T.&#x20;H.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;S.&#x20;Y.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Cho,&#x20;N.&#x20;K.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Seong,&#x20;H.&#x20;K.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Choi,&#x20;H.&#x20;J.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Jung,&#x20;S.&#x20;W.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;S.&#x20;K.</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T02:35:59Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-21T02:35:59Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-08-31</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2006-07-28</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">0957-4484</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;135322</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">We&#x20;report&#x20;on&#x20;a&#x20;simple&#x20;and&#x20;effective&#x20;ac&#x20;and&#x20;dc&#x20;dielectrophoresis&#x20;(DEP)&#x20;method&#x20;that&#x20;can&#x20;be&#x20;used&#x20;to&#x20;align&#x20;and&#x20;manipulate&#x20;semiconductor&#x20;gallium&#x20;nitride&#x20;(GaN)&#x20;nanowires&#x20;(NWs)&#x20;with&#x20;variations&#x20;in&#x20;the&#x20;type&#x20;of&#x20;electrical&#x20;fields&#x20;as&#x20;well&#x20;as&#x20;variations&#x20;of&#x20;frequency.&#x20;We&#x20;observed&#x20;that&#x20;the&#x20;ability&#x20;of&#x20;the&#x20;alignment&#x20;and&#x20;the&#x20;formation&#x20;of&#x20;the&#x20;assembling&#x20;nanowires&#x20;(single&#x20;or&#x20;a&#x20;bundle&#x20;configuration)&#x20;strongly&#x20;depend&#x20;on&#x20;the&#x20;magnitude&#x20;of&#x20;both&#x20;the&#x20;ac&#x20;and&#x20;dc&#x20;electric&#x20;fields.&#x20;The&#x20;yield&#x20;results&#x20;indicate&#x20;that&#x20;the&#x20;GaN&#x20;NWs,&#x20;using&#x20;ac&#x20;DEP,&#x20;are&#x20;better&#x20;aligned&#x20;with&#x20;a&#x20;higher&#x20;yield&#x20;rate&#x20;of&#x20;approximately&#x20;80%&#x20;over&#x20;the&#x20;entire&#x20;array&#x20;in&#x20;the&#x20;chip&#x20;than&#x20;by&#x20;using&#x20;dc&#x20;DEP.&#x20;In&#x20;addition,&#x20;we&#x20;first&#x20;demonstrated&#x20;the&#x20;simple&#x20;hybrid&#x20;p-n&#x20;junction&#x20;structures&#x20;assembled&#x20;by&#x20;n-type&#x20;GaN&#x20;nanowires&#x20;together&#x20;with&#x20;a&#x20;p-type&#x20;silicon&#x20;substrate&#x20;(n-GaN&#x20;NW&#x2F;p-Si&#x20;substrate)&#x20;using&#x20;dielectrophoresis.&#x20;From&#x20;the&#x20;transport&#x20;measurements,&#x20;the&#x20;p-n&#x20;junction&#x20;structures&#x20;show&#x20;well-defined&#x20;current&#x20;rectifying&#x20;behaviour&#x20;with&#x20;a&#x20;low&#x20;reverse&#x20;leakage&#x20;current&#x20;of&#x20;approximately&#x20;3&#x20;x&#x20;10(-4)&#x20;A&#x20;at&#x20;-25&#x20;V.&#x20;We&#x20;believe&#x20;that&#x20;our&#x20;unique&#x20;p-n&#x20;junction&#x20;structures&#x20;can&#x20;be&#x20;useful&#x20;for&#x20;electronic&#x20;and&#x20;optoelectronic&#x20;nanodevices&#x20;such&#x20;as&#x20;rectifiers&#x20;and&#x20;UV&#x20;nano-LEDs.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">IOP&#x20;PUBLISHING&#x20;LTD</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">MANIPULATION</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">FABRICATION</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">DEPOSITION</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Dielectrophoretic&#x20;alignment&#x20;of&#x20;gallium&#x20;nitride&#x20;nanowires&#x20;(GaN&#x20;NWs)&#x20;for&#x20;use&#x20;in&#x20;device&#x20;applications</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1088&#x2F;0957-4484&#x2F;17&#x2F;14&#x2F;009</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">NANOTECHNOLOGY,&#x20;v.17,&#x20;no.14,&#x20;pp.3394&#x20;-&#x20;3399</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">NANOTECHNOLOGY</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">17</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="number">14</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="startPage">3394</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="endPage">3399</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scie</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scopus</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="wosid">000238969700010</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Nanoscience&#x20;&amp;&#x20;Nanotechnology</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Materials&#x20;Science,&#x20;Multidisciplinary</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Physics,&#x20;Applied</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Science&#x20;&amp;&#x20;Technology&#x20;-&#x20;Other&#x20;Topics</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Materials&#x20;Science</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Physics</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="docType">Article</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">MANIPULATION</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">FABRICATION</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">DEPOSITION</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">GaN</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">nanowires</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Dielectrophoretic</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">alignment</dcvalue>
</dublin_core>
