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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">이정아</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">이윤희</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">문승일</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">주병권</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T07:36:29Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-21T07:36:29Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-06</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2004-02</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">1226-7945</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;137874</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">In&#x20;this&#x20;paper,&#x20;we&#x20;have&#x20;fabricated&#x20;a&#x20;triode&#x20;field&#x20;emitter&#x20;using&#x20;carbon&#x20;nanotubes&#x20;(CNTs)&#x20;directly&#x20;grown&#x20;by&#x20;thermal&#x20;chemical&#x20;vapor&#x20;deposition(CVD)&#x20;method&#x20;as&#x20;an&#x20;electron&#x20;emission&#x20;source.&#x20;Vertically&#x20;aligned&#x20;CNTs&#x20;have&#x20;been&#x20;grown&#x20;in&#x20;the&#x20;center&#x20;of&#x20;the&#x20;gate&#x20;hole,&#x20;to&#x20;the&#x20;size&#x20;of&#x20;1.5&#x20;㎛&#x20;in&#x20;diameter,&#x20;with&#x20;help&#x20;of&#x20;a&#x20;sacrificial&#x20;layer&#x20;of&#x20;a&#x20;type&#x20;generally&#x20;used&#x20;in&#x20;metal&#x20;tip&#x20;process.&#x20;By&#x20;the&#x20;method&#x20;of&#x20;tilting&#x20;the&#x20;substrate,&#x20;we&#x20;made&#x20;CNTs&#x20;emitters&#x20;both&#x20;with&#x20;and&#x20;without&#x20;SiO2&#x20;layer,&#x20;a&#x20;sidewall&#x20;protector,&#x20;deposited&#x20;on&#x20;sidewall&#x20;of&#x20;gate.&#x20;After&#x20;that&#x20;we&#x20;researched&#x20;the&#x20;electrical&#x20;characteristics&#x20;about&#x20;two&#x20;types&#x20;of&#x20;emitters.&#x20;In&#x20;effect,&#x20;a&#x20;sidewall&#x20;protector&#x20;can&#x20;enhance&#x20;the&#x20;electrical&#x20;characteristics&#x20;by&#x20;suppressing&#x20;the&#x20;problem&#x20;of&#x20;short&#x20;circuits&#x20;between&#x20;the&#x20;gate&#x20;and&#x20;the&#x20;CNTs.&#x20;The&#x20;leakage&#x20;current&#x20;of&#x20;an&#x20;emitter&#x20;with&#x20;a&#x20;sidewall&#x20;protector&#x20;is&#x20;approximately&#x20;sevenfold&#x20;lower&#x20;than&#x20;that&#x20;of&#x20;an&#x20;emitter&#x20;without&#x20;it&#x20;at&#x20;a&#x20;gate&#x20;voltage&#x20;of&#x20;100&#x20;V.</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">한국전기전자재료학회</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">집적화된&#x20;3&#x20;극형&#x20;탄소&#x20;나노&#x20;튜브&#x20;전자&#x20;방출원의&#x20;제작</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="alternative">Fabrication&#x20;of&#x20;Integrated&#x20;Triode-type&#x20;CNT&#x20;Field&#x20;Emitters</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">전기전자재료학회논문지,&#x20;v.17,&#x20;no.2,&#x20;pp.212&#x20;-&#x20;216</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">전기전자재료학회논문지</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">17</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="number">2</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="kciid">ART001089855</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">CNT</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Field&#x20;emitter</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Triode</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Sidewall&#x20;protector</dcvalue>
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