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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;SH</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Yoon,&#x20;KH</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;JK</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T10:01:39Z</dcvalue>
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<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-01</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2002-10-01</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;139140</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">This&#x20;article&#x20;presents&#x20;an&#x20;electrode&#x20;effect&#x20;on&#x20;the&#x20;quality&#x20;factor&#x20;and&#x20;effective&#x20;coupling&#x20;coefficient&#x20;empirically&#x20;and&#x20;theoretically.&#x20;The&#x20;possible&#x20;quality&#x20;factor&#x20;detractors&#x20;in&#x20;film&#x20;bulk&#x20;acoustic&#x20;wave&#x20;resonator&#x20;devices&#x20;are&#x20;the&#x20;acoustic&#x20;wave&#x20;attenuation&#x20;in&#x20;the&#x20;metal&#x20;and&#x20;piezoelectric&#x20;films,&#x20;the&#x20;wave&#x20;scattering&#x20;loss&#x20;due&#x20;to&#x20;the&#x20;surface&#x20;roughness,&#x20;and&#x20;the&#x20;electrode&#x20;electrical&#x20;loss.&#x20;Due&#x20;to&#x20;the&#x20;small&#x20;acoustic&#x20;wave&#x20;attenuation&#x20;of&#x20;the&#x20;Mo&#x20;electrode,&#x20;the&#x20;composite&#x20;Mo-AlN-Mo&#x20;resonator&#x20;with&#x20;the&#x20;thick&#x20;electrode&#x20;provides&#x20;higher&#x20;Q&#x20;values&#x20;than&#x20;the&#x20;resonator&#x20;with&#x20;the&#x20;good&#x20;quality&#x20;AlN&#x20;film&#x20;and&#x20;the&#x20;thin&#x20;Mo&#x20;electrode.&#x20;In&#x20;such&#x20;Mo&#x20;electroded&#x20;resonators,&#x20;the&#x20;effective&#x20;coupling&#x20;coefficient&#x20;is&#x20;kept&#x20;relatively&#x20;high.&#x20;It&#x20;is&#x20;found&#x20;that&#x20;the&#x20;Q&#x20;value&#x20;of&#x20;solidly&#x20;mounted&#x20;resonators&#x20;(SMRs)&#x20;is&#x20;not&#x20;determined&#x20;by&#x20;only&#x20;the&#x20;piezoelectric&#x20;film&#x20;quality,&#x20;but&#x20;by&#x20;a&#x20;weighted&#x20;average&#x20;of&#x20;the&#x20;electrode&#x20;and&#x20;piezoelectric&#x20;film&#x20;quality.&#x20;Of&#x20;Q&#x20;value&#x20;detractors,&#x20;the&#x20;scattering&#x20;loss&#x20;originating&#x20;from&#x20;surface&#x20;roughness&#x20;is&#x20;thought&#x20;to&#x20;be&#x20;very&#x20;important&#x20;factor&#x20;in&#x20;SMR&#x20;quality&#x20;value.&#x20;(C)&#x20;2002&#x20;American&#x20;Institute&#x20;of&#x20;Physics.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">AMER&#x20;INST&#x20;PHYSICS</dcvalue>
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<dcvalue element="title" qualifier="none">Influence&#x20;of&#x20;electrode&#x20;configurations&#x20;on&#x20;the&#x20;quality&#x20;factor&#x20;and&#x20;piezoelectric&#x20;coupling&#x20;constant&#x20;of&#x20;solidly&#x20;mounted&#x20;bulk&#x20;acoustic&#x20;wave&#x20;resonators</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1063&#x2F;1.1505977</dcvalue>
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<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">JOURNAL&#x20;OF&#x20;APPLIED&#x20;PHYSICS,&#x20;v.92,&#x20;no.7,&#x20;pp.4062&#x20;-&#x20;4069</dcvalue>
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