<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="no"?>
<dublin_core schema="dc">
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Cho,&#x20;JS</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Koh,&#x20;SK</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Yoon,&#x20;KH</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T14:15:03Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-21T14:15:03Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2021-09-04</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2000-03</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">0013-4651</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;141558</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">Changes&#x20;of&#x20;crystallinity&#x20;and&#x20;microstructure&#x20;in&#x20;undoped&#x20;In2O3&#x20;films&#x20;prepared&#x20;by&#x20;oxygen&#x20;ion-assisted&#x20;deposition&#x20;were&#x20;investigated&#x20;using&#x20;X-ray&#x20;diffraction&#x20;and&#x20;scanning&#x20;electron&#x20;microscopy.&#x20;The&#x20;oxygen&#x20;ion&#x20;energy&#x20;was&#x20;varied&#x20;from&#x20;60&#x20;to&#x20;500&#x20;eV&#x20;during&#x20;indium&#x20;thermal&#x20;evaporation.&#x20;The&#x20;crystallinity&#x20;and&#x20;microstructure&#x20;of&#x20;the&#x20;films&#x20;were&#x20;closely&#x20;related&#x20;to&#x20;the&#x20;oxygen&#x20;ion&#x20;energy&#x20;bombarded&#x20;on&#x20;the&#x20;growing&#x20;surface.&#x20;Domain&#x20;structure&#x20;and&#x20;preferential&#x20;orientation&#x20;in&#x20;the&#x20;[100]&#x20;direction&#x20;were&#x20;obtained&#x20;in&#x20;the&#x20;film&#x20;deposited&#x20;at&#x20;60&#x20;eV.&#x20;Upon&#x20;increasing&#x20;the&#x20;ion-beam&#x20;energy&#x20;to&#x20;500&#x20;eV,&#x20;the&#x20;domain&#x20;structure&#x20;was&#x20;changed&#x20;into&#x20;the&#x20;grain&#x20;structure&#x20;and&#x20;the&#x20;crystallinity&#x20;became&#x20;preferentially&#x20;oriented&#x20;along&#x20;the&#x20;[111]&#x20;direction.&#x20;Depending&#x20;on&#x20;the&#x20;range&#x20;of&#x20;ion&#x20;beam&#x20;energy,&#x20;the&#x20;main&#x20;effect&#x20;of&#x20;energetic&#x20;ions&#x20;on&#x20;the&#x20;growing&#x20;surface&#x20;of&#x20;the&#x20;film&#x20;may&#x20;be&#x20;divided&#x20;into&#x20;two&#x20;categories:&#x20;the&#x20;enhancement&#x20;of&#x20;adatom&#x20;mobility&#x20;and&#x20;the&#x20;creation&#x20;of&#x20;additional&#x20;nucleation&#x20;sites&#x20;by&#x20;lattice&#x20;damage.&#x20;Electrical&#x20;properties&#x20;of&#x20;the&#x20;deposited&#x20;films&#x20;were&#x20;significantly&#x20;dependent&#x20;on&#x20;the&#x20;change&#x20;of&#x20;chemical&#x20;composition&#x20;and&#x20;microstructure&#x20;due&#x20;to&#x20;variation&#x20;of&#x20;ion&#x20;beam&#x20;energy.&#x20;With&#x20;increasing&#x20;the&#x20;ion&#x20;beam&#x20;energy,&#x20;the&#x20;electrical&#x20;resistivity&#x20;increased&#x20;and&#x20;the&#x20;carrier&#x20;concentration&#x20;decreased.&#x20;The&#x20;film&#x20;having&#x20;the&#x20;domain&#x20;structure&#x20;had&#x20;larger&#x20;mobility&#x20;than&#x20;other&#x20;films&#x20;having&#x20;the&#x20;grain&#x20;structure,&#x20;because&#x20;a&#x20;boundary&#x20;scattering&#x20;was&#x20;reduced&#x20;in&#x20;the&#x20;large&#x20;size&#x20;domains&#x20;compared&#x20;with&#x20;the&#x20;small&#x20;size&#x20;grains.&#x20;(C)&#x20;2000&#x20;The&#x20;Electrochemical&#x20;Society.&#x20;S0013-4651(99)06-110-8.&#x20;All&#x20;rights&#x20;reserved.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">ELECTROCHEMICAL&#x20;SOC&#x20;INC</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">DOPED&#x20;IN2O3&#x20;FILMS</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="none">TIN</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Microstructure&#x20;and&#x20;electrical&#x20;properties&#x20;of&#x20;indium&#x20;oxide&#x20;thin&#x20;films&#x20;prepared&#x20;by&#x20;direct&#x20;oxygen&#x20;ion-assisted&#x20;deposition</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1149&#x2F;1.1393314</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">JOURNAL&#x20;OF&#x20;THE&#x20;ELECTROCHEMICAL&#x20;SOCIETY,&#x20;v.147,&#x20;no.3,&#x20;pp.1065&#x20;-&#x20;1070</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">JOURNAL&#x20;OF&#x20;THE&#x20;ELECTROCHEMICAL&#x20;SOCIETY</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">147</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="number">3</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="startPage">1065</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="endPage">1070</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scie</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scopus</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="wosid">000085912700039</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="scopusid">2-s2.0-0033886812</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Electrochemistry</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Materials&#x20;Science,&#x20;Coatings&#x20;&amp;&#x20;Films</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Electrochemistry</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Materials&#x20;Science</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="docType">Article</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">DOPED&#x20;IN2O3&#x20;FILMS</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">TIN</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">indium&#x20;tin&#x20;oxide</dcvalue>
</dublin_core>
