신현 현승엽 김상욱 김세윤 2024-01-21T15:09:55Z 2024-01-21T15:09:55Z 2022-01-10 1999-08 1016-135X https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/142009 Korean 대한전자공학회 복소유전율 측정용 개방단말 동축선 프로브 제작오차의 영향에 관한 FDTD 모의계산 FDTD simulation on the effect of manufacturing error of an open-ended coaxial probe for measuring complex permittivity Article 2 전자공학회논문지, v.36D, no.8, pp.691 - 698 전자공학회논문지 36D 8 691 698 N other 복소유전율