이정일 이재철 석현광 이호인 2024-01-21T20:08:38Z 2024-01-21T20:08:38Z 2022-01-10 1996-01 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/144773 Phase identification of the interfacial reaction product of SiC//p/Al composite using convergent beam electron diffraction technique. 수렴성 빔 전자회절법을 이용한 SiC//p/Al 복합재에서의 계면 생성물의 상분석 = Article 3 한국전자현미경학회지 = Korean J. electron microscopy, v.v. 26, no.no. 1, pp.95 - 104 한국전자현미경학회지 = Korean J. electron microscopy v. 26 no. 1 95 104 SiC//p/Al composite