김긍호 우현정 최두진 2024-01-21T21:05:02Z 2024-01-21T21:05:02Z 2022-01-10 1995-01 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/145262 Measurements of lattice strain in SiO//2Si interface using convergent beam electron diffraction. 수렴성빔 전자회절법을 이용한 SiO//2Si 계면 부위의 격자 변형량 측정 = Article 3 한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy, v.v. 25, no.no. 2, pp.73 - 79 한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy v. 25 no. 2 73 79 lattice strain