윤능구 황재웅 고경현 안재환 제해준 홍국선 2024-01-21T22:06:09Z 2024-01-21T22:06:09Z 2022-01-10 1994-01 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/145831 Interfacial defects in SiO₂-glass bond during VCR head fabrication VCR 헤드 제조시 SiO₂ 박막과 유리의 계면 결함 Article 3 한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.4, no.1, pp.31 - 36 한국재료학회지 = Korean journal of materials research 4 1 31 36 VCR 헤드 VCR head SiO₂ 박막 SiO₂ thin film 계면 결함 inteface defect