<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="no"?>
<dublin_core schema="dc">
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">CHOI,&#x20;SK</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">YI,&#x20;CW</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">CHO,&#x20;WI</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">CHO,&#x20;BW</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">JU,&#x20;JB</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">YUN,&#x20;KS</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">YAMAZOE,&#x20;N</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-21T22:33:03Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-21T22:33:03Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2022-01-10</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">1993-05</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">0925-4005</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;146053</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">A&#x20;MOSFET&#x20;type&#x20;sensor&#x20;for&#x20;O2&#x20;gas&#x20;detection&#x20;with&#x20;a&#x20;gate&#x20;material&#x20;of&#x20;LaF3&#x20;film&#x20;deposited&#x20;on&#x20;an&#x20;ordinary&#x20;n-channel&#x20;MOSFET&#x20;was&#x20;fabricated.&#x20;The&#x20;LaF3&#x20;film&#x20;of&#x20;800&#x20;angstrom&#x20;thickness&#x20;and&#x20;the&#x20;Pt&#x20;film&#x20;of&#x20;500&#x20;angstrom&#x20;thickness&#x20;were&#x20;deposited,&#x20;sequentially,&#x20;by&#x20;the&#x20;e-beam&#x20;evaporation&#x20;method.&#x20;The&#x20;amount&#x20;of&#x20;drain&#x20;current&#x20;was&#x20;decreased&#x20;by&#x20;about&#x20;130&#x20;muA&#x20;with&#x20;O2&#x20;gas&#x20;and&#x20;the&#x20;response&#x20;and&#x20;regeneration&#x20;times&#x20;of&#x20;this&#x20;sensor&#x20;were&#x20;1&#x20;and&#x20;17&#x20;min&#x20;at&#x20;80-degrees-C,&#x20;respectively,&#x20;when&#x20;measured&#x20;by&#x20;the&#x20;constant&#x20;voltage&#x20;method&#x20;(V(D)&#x20;=&#x20;3&#x20;V,&#x20;V(G)&#x20;=&#x20;0&#x20;V).&#x20;In&#x20;the&#x20;constant&#x20;voltage&#x20;method,&#x20;the&#x20;higher&#x20;the&#x20;operating&#x20;temperature,&#x20;the&#x20;shorter&#x20;the&#x20;response&#x20;time.&#x20;As&#x20;oxygen&#x20;gas&#x20;was&#x20;injected,&#x20;the&#x20;gate&#x20;voltage&#x20;of&#x20;this&#x20;sensor&#x20;was&#x20;shifted&#x20;to&#x20;30&#x20;mV&#x20;and&#x20;its&#x20;response&#x20;time&#x20;was&#x20;3.5&#x20;min&#x20;with&#x20;the&#x20;constant&#x20;current&#x20;method&#x20;(I(D)&#x20;=&#x20;500&#x20;nA).&#x20;When&#x20;the&#x20;oxygen&#x20;concentration&#x20;was&#x20;0.05%&#x20;in&#x20;nitrogen,&#x20;the&#x20;gate&#x20;voltage&#x20;ratio&#x20;of&#x20;the&#x20;oxygen&#x20;gas&#x20;sensor&#x20;approached&#x20;0.5.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">Elsevier&#x20;BV</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">A&#x20;MOSFET&#x20;type&#x20;sensor&#x20;for&#x20;oxygen&#x20;sensing&#x20;using&#x20;LaF3&#x20;as&#x20;a&#x20;gate&#x20;material</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Article</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1016&#x2F;0925-4005(93)85319-6</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">Sensors&#x20;and&#x20;Actuators&#x20;B:&#x20;Chemical,&#x20;v.13,&#x20;no.1-3,&#x20;pp.45&#x20;-&#x20;48</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">Sensors&#x20;and&#x20;Actuators&#x20;B:&#x20;Chemical</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="volume">13</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="number">1-3</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="startPage">45</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="endPage">48</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="isOpenAccess">N</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scie</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalRegisteredClass">scopus</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="wosid">A1993LM16400011</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="scopusid">2-s2.0-0027593815</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Chemistry,&#x20;Analytical</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Electrochemistry</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalWebOfScienceCategory">Instruments&#x20;&amp;&#x20;Instrumentation</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Chemistry</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Electrochemistry</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="journalResearchArea">Instruments&#x20;&amp;&#x20;Instrumentation</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="docType">Article;&#x20;Proceedings&#x20;Paper</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordPlus">ROOM-TEMPERATURE</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">platinum</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">thin&#x20;film</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">dissolved&#x20;oxygen</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">gate&#x20;voltage</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">drain&#x20;curretn</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">Nernst&#x20;slope</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">LaF&#x2F;&#x2F;3</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">gate&#x20;material</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">MOSFET</dcvalue>
<dcvalue element="subject" qualifier="keywordAuthor">sputtering</dcvalue>
</dublin_core>
