강광남 이명복 이정일 2024-01-22T01:02:13Z 2024-01-22T01:02:13Z 2022-01-10 1989-01 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/147422 The shift of threshold voltage and subthreshold current curve in LDD MOSFET degraded under difference DC stress-biases. DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET 에서 문턱진압과 subthreshold 전류곡선의 변화 = Article 3 전자공학회논문지, v.v. 26, no.no. 5, pp.682 - ? 전자공학회논문지 v. 26 no. 5 682 ? MOSFET