강광남 이명복 이정일 2024-01-22T01:04:26Z 2024-01-22T01:04:26Z 2022-01-10 1989-01 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/147458 A study on the extraction of mobility reduction parameters in short channel n-MOSFETs at room temperature. 상온에서 짧은 채널 n-MOSFET 의 이동도 감쇠 변수 추출에 관한 연구 = Article 3 전자공학회논문지, v.v. 26, no.no. 9, pp.1375 - ? 전자공학회논문지 v. 26 no. 9 1375 ? MOSFET