최낙원 염상윤 손충현 조일주 2024-01-12T06:45:03Z 2024-01-12T06:45:03Z 2017-12-20 https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/80117 양자점을 포함하는 다중 검출용 입자 및 그 제조방법 Patent 2017-12-20 2016-03-31 10-1812674 2016-0038862 KO 특허 한국과학기술연구원