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<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Sim,&#x20;W.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Kim,&#x20;B.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Choi,&#x20;B.</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Park,&#x20;J.-O.</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-12T09:16:14Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-12T09:16:14Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2022-03-07</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">2002-04</dcvalue>
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<dcvalue element="description" qualifier="abstract">In&#x20;this&#x20;study,&#x20;the&#x20;finite-element&#x20;method(FEM)&#x20;is&#x20;employed&#x20;in&#x20;order&#x20;to&#x20;analyze&#x20;the&#x20;mechanical&#x20;behavior&#x20;of&#x20;parylene&#x20;diaphragm.&#x20;Thermal&#x20;and&#x20;load-deflection&#x20;FE&#x20;analyses&#x20;of&#x20;flat&#x20;and&#x20;corrugated&#x20;parylene&#x20;diaphragm&#x20;are&#x20;performed&#x20;to&#x20;find&#x20;an&#x20;effect&#x20;of&#x20;the&#x20;residual&#x20;stress&#x20;on&#x20;the&#x20;stiffness&#x20;of&#x20;the&#x20;diaphragm.&#x20;The&#x20;simulation&#x20;results&#x20;show&#x20;that&#x20;the&#x20;mechanical&#x20;sensitivity&#x20;of&#x20;diaphragm&#x20;is&#x20;greatly&#x20;influenced&#x20;by&#x20;the&#x20;residual&#x20;stress&#x20;caused&#x20;by&#x20;the&#x20;thermal&#x20;process(silicon&#x20;wet&#x20;etching).&#x20;The&#x20;measurement&#x20;is&#x20;consistent&#x20;with&#x20;simulation&#x20;result&#x20;that&#x20;takes&#x20;the&#x20;effect&#x20;of&#x20;residual&#x20;stress&#x20;into&#x20;account.&#x20;Optimum&#x20;shape&#x20;of&#x20;corrugated&#x20;diaphragm&#x20;that&#x20;considers&#x20;the&#x20;corrugation&#x20;depth&#x20;and&#x20;number&#x20;is&#x20;determined.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">IEEE</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Thermal&#x20;and&#x20;load-deflection&#x20;FE&#x20;analysis&#x20;of&#x20;parylene&#x20;diaphragms</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Conference</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">2002&#x20;International&#x20;Conference&#x20;on&#x20;Modeling&#x20;and&#x20;Simulation&#x20;of&#x20;Microsystems&#x20;-&#x20;MSM&#x20;2002,&#x20;pp.210&#x20;-&#x20;213</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">2002&#x20;International&#x20;Conference&#x20;on&#x20;Modeling&#x20;and&#x20;Simulation&#x20;of&#x20;Microsystems&#x20;-&#x20;MSM&#x20;2002</dcvalue>
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<dcvalue element="citation" qualifier="conferenceDate">2002-04-21</dcvalue>
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