<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="no"?>
<dublin_core schema="dc">
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Cho,&#x20;Sung-Jin</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Lee,&#x20;Kwang-Ryeol</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Eun,&#x20;Kwang&#x20;Yong</dcvalue>
<dcvalue element="contributor" qualifier="author">Ko,&#x20;Dae-Hong</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="accessioned">2024-01-12T11:09:54Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="available">2024-01-12T11:09:54Z</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="created">2022-03-07</dcvalue>
<dcvalue element="date" qualifier="issued">1998-04</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="issn">0272-9172</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;pubs.kist.re.kr&#x2F;handle&#x2F;201004&#x2F;85421</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="abstract">Elastic&#x20;modulus&#x20;and&#x20;Poisson&amp;apos;s&#x20;ratio&#x20;of&#x20;diamond-like&#x20;carbon&#x20;(DLC)&#x20;film&#x20;was&#x20;measured&#x20;by&#x20;a&#x20;simple&#x20;method&#x20;using&#x20;DLC&#x20;bridges&#x20;which&#x20;are&#x20;free&#x20;from&#x20;mechanical&#x20;constraint&#x20;of&#x20;substrate.&#x20;The&#x20;DLC&#x20;films&#x20;were&#x20;deposited&#x20;on&#x20;Si&#x20;wafer&#x20;by&#x20;C6H6&#x20;r.f.&#x20;glow&#x20;discharge&#x20;at&#x20;the&#x20;deposition&#x20;pressure&#x20;1.33&#x20;Pa.&#x20;Because&#x20;of&#x20;the&#x20;high&#x20;residual&#x20;compressive&#x20;stress&#x20;of&#x20;the&#x20;film,&#x20;the&#x20;bridge&#x20;exhibited&#x20;a&#x20;sinusoidal&#x20;displacement&#x20;by&#x20;removing&#x20;the&#x20;constraint&#x20;of&#x20;the&#x20;substrate.&#x20;By&#x20;measuring&#x20;the&#x20;amplitude&#x20;with&#x20;known&#x20;bridge&#x20;length,&#x20;we&#x20;could&#x20;determine&#x20;the&#x20;strain&#x20;of&#x20;the&#x20;film&#x20;required&#x20;to&#x20;adhere&#x20;to&#x20;the&#x20;substrate.&#x20;Combined&#x20;with&#x20;independent&#x20;stress&#x20;measurement&#x20;by&#x20;laser&#x20;reflection&#x20;method,&#x20;this&#x20;method&#x20;allows&#x20;calculation&#x20;of&#x20;the&#x20;biaxial&#x20;elastic&#x20;modulus,&#x20;E&#x2F;(1-v),&#x20;where&#x20;E&#x20;is&#x20;the&#x20;elastic&#x20;modulus&#x20;and&#x20;v&#x20;Poisson&amp;apos;s&#x20;ratio&#x20;of&#x20;the&#x20;DLC&#x20;film.&#x20;By&#x20;comparing&#x20;the&#x20;biaxial&#x20;elastic&#x20;modulus&#x20;with&#x20;plane-strain&#x20;modulus,&#x20;E&#x2F;(1-v2),&#x20;measured&#x20;by&#x20;nano-indentation,&#x20;we&#x20;could&#x20;further&#x20;determine&#x20;the&#x20;elastic&#x20;modulus&#x20;and&#x20;Poisson&amp;apos;s&#x20;ratio,&#x20;independently.&#x20;The&#x20;elastic&#x20;modulus,&#x20;E,&#x20;increased&#x20;from&#x20;87&#x20;to&#x20;133&#x20;GPa&#x20;as&#x20;the&#x20;negative&#x20;bias&#x20;voltage&#x20;increased&#x20;from&#x20;400&#x20;to&#x20;550&#x20;V.&#x20;Poisson&amp;apos;s&#x20;ratio&#x20;was&#x20;estimated&#x20;to&#x20;be&#x20;about&#x20;0.20&#x20;in&#x20;this&#x20;bias&#x20;voltage&#x20;range.&#x20;For&#x20;the&#x20;negative&#x20;bias&#x20;voltages&#x20;less&#x20;than&#x20;400&#x20;V,&#x20;however,&#x20;the&#x20;present&#x20;method&#x20;resulted&#x20;in&#x20;negative&#x20;Poisson&amp;apos;s&#x20;ratio&#x20;which&#x20;is&#x20;physically&#x20;impossible.&#x20;The&#x20;limitation&#x20;of&#x20;the&#x20;present&#x20;method&#x20;was&#x20;also&#x20;discussed.</dcvalue>
<dcvalue element="language" qualifier="none">English</dcvalue>
<dcvalue element="publisher" qualifier="none">Materials&#x20;Research&#x20;Society</dcvalue>
<dcvalue element="title" qualifier="none">Measurement&#x20;of&#x20;elastic&#x20;modulus&#x20;and&#x20;Poisson&amp;apos;s&#x20;ratio&#x20;of&#x20;diamond-like&#x20;carbon&#x20;films</dcvalue>
<dcvalue element="type" qualifier="none">Conference</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="doi">10.1557&#x2F;proc-518-203</dcvalue>
<dcvalue element="description" qualifier="journalClass">1</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="bibliographicCitation">1998&#x20;MRS&#x20;Spring&#x20;Symposium,&#x20;pp.203&#x20;-&#x20;208</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="title">1998&#x20;MRS&#x20;Spring&#x20;Symposium</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="startPage">203</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="endPage">208</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="conferencePlace">US</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="conferencePlace">San&#x20;Francisco,&#x20;CA,&#x20;USA</dcvalue>
<dcvalue element="citation" qualifier="conferenceDate">1998-04-15</dcvalue>
<dcvalue element="relation" qualifier="isPartOf">Materials&#x20;Research&#x20;Society&#x20;Symposium&#x20;-&#x20;Proceedings</dcvalue>
<dcvalue element="identifier" qualifier="scopusid">2-s2.0-0032299364</dcvalue>
</dublin_core>
