KIST Library Institutional Repository

형광 나노 실리카 입자를 이용한 멤브레인 표면 손상 탐지 기술개발

Authors

Shim Kyu-hwan; Kim Ki Pal; CHO, JIN WOO

Issue Date

2009-04

Citation

대한환경공학회 춘계학술발표회

Keywords

형광나노입자; 분리막; 표면검측; 검측시스템; integrity

URI

https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/100768

Appears in Collections:

KIST Conference Paper > Others

Export

RIS (EndNote)

XLS (Excel)

XML