DSpace at KISTKIST Patent2009

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dc.contributor.author김원목-
dc.contributor.author김주영-
dc.contributor.author이경석-
dc.contributor.author이택성-
dc.date.accessioned2015-12-04T08:26:14Z-
dc.date.available2015-12-04T08:26:14Z-
dc.date.issued20090515-
dc.identifier.other1020090042383-
dc.identifier.urihttp://kpat.kipris.or.kr/kpat/biblioa.do?method=biblioFrame&applno=1020090042383en_US
dc.identifier.urihttps://pubs.kist.re.kr/handle/201004/52750-
dc.description.abstract암시야 현미경은, 입사빔을 조사하는 광원-
dc.description.abstract제1 영역 및 상기 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역을 포함하며, 입사빔이 시편으로부터 산란된 산란빔을 전파하는 대물렌즈-
dc.description.abstract상기 대물렌즈를 통과한 산란빔이 전달되는 수신부-
dc.description.abstract및 상기 제1 영역 및 상기 수신부를 광학적으로 차단하는 수단을 포함할 수 있다. 이를 이용한 산란광 검출 방법은, 상기 대물렌즈를 시편에 인접하여 배치하는 단계-
dc.description.abstract시편에 입사빔을 조사하는 단계-
dc.description.abstract입사빔이 시편으로부터 산란된 산란빔을 상기 대물렌즈를 통해 수신부 방향으로 전파하는 단계-
dc.description.abstract상기 제1 영역을 상기 수신부로부터 광학적으로 차단하는 단계-
dc.description.abstract및 상기 제2 영역을 통해 전파된 산란빔을 상기 수신부에서 수신하는 단계를 포함할 수 있다.-
dc.languageKO-
dc.publisher한국과학기술연구원-
dc.title암시야 현미경 및 이를 이용한 산란광 검출 방법-
dc.typePatent-
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KIST Patent > 2009
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