암시야 현미경 및 이를 이용한 산란광 검출 방법
- Title
- 암시야 현미경 및 이를 이용한 산란광 검출 방법
- Authors
- 김원목; 김주영; 이경석; 이택성
- Issue Date
- 2009-05-15
- Publisher
- 한국과학기술연구원
- Abstract
- 암시야 현미경은, 입사빔을 조사하는 광원; 제1 영역 및 상기 제1 영역을 둘러싸는 제2 영역을 포함하며, 입사빔이 시편으로부터 산란된 산란빔을 전파하는 대물렌즈; 상기 대물렌즈를 통과한 산란빔이 전달되는 수신부; 및 상기 제1 영역 및 상기 수신부를 광학적으로 차단하는 수단을 포함할 수 있다. 이를 이용한 산란광 검출 방법은, 상기 대물렌즈를 시편에 인접하여 배치하는 단계; 시편에 입사빔을 조사하는 단계; 입사빔이 시편으로부터 산란된 산란빔을 상기 대물렌즈를 통해 수신부 방향으로 전파하는 단계; 상기 제1 영역을 상기 수신부로부터 광학적으로 차단하는 단계; 및 상기 제2 영역을 통해 전파된 산란빔을 상기 수신부에서 수신하는 단계를 포함할 수 있다.
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- Appears in Collections:
- KIST Patent > 2009
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