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나노 메타물질 기반 테라헤르츠 전자기파를 이용한 고민감도 잔류량 검출방법 및 이에 사용되는 디바이스

Author

서민아; 이동규; 전영민; 이택진; 김재헌; 김철기

Assignee

한국과학기술연구원

Regitration Date

2017-12-05

Registration No.

9,835,553

Application Date

2016-03-24

Application No.

15/079,996

Country

US

URI

https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/76959

Appears in Collections:

KIST Patent > Others

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