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플라즈마 전해 산화법에 사용되는 전해질 내 ＳｉＯ₂농도의 분석방법 및 이를 이용한 전해질의 수명연장방법

Author

오영주; 송귀은; 홍경태; 옥명렬

Assignee

한국과학기술연구원

Regitration Date

2007-09-10

Registration No.

0758895

Application Date

2006-09-27

Application No.

2006-0094430

Country

KO

URI

https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/84166

Appears in Collections:

KIST Patent > 2006

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