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Issue DateTitleAuthor(s)
2017-09In-depth electrical characterization of carrier transport in ambipolar Si-NW Schottky-barrier FETsJeon, Dae-Young; Baldauf, Tim; Park, So Jeong; Weber, Walter M.; Baraban, Larysa; Cuniberti, Gianaurelio; Mikolajick, Thomas; Pregl, Sebastian
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