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Issue DateTitleAuthor(s)
2009-11-30Observation of new critical point in InxAl1-xAs alloy using spectroscopic ellipsometryYoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kang, Y. J.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D.
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