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2022-03Engineering Breakdown Probability Profile for PDP and DCR Optimization in a SPAD Fabricated in a Standard 55nm BCD ProcessGramuglia, F.; Keshavarzian, P.; Kizilkan, E.; Bruschini, C.; Tan, S.S.; Tng, M.; Quek, E.; Lee, M.; Charbon, E.
2023-09Extended Temperature Modeling of InGaAs/InP SPADsKizilkan, E.; Karaca, U.; Pesic, V.; Lee, M. -J.; Bruschini, C.; SpringThorpe, A. J.; Walker, A. W.; Flueraru, C.; Pitts, O. J.; Charbon, E.
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