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Issue DateTitleAuthor(s)
2007-03-01Thickness dependence of parallel and perpendicular anisotropic resistivity in Ta/NiFe/IrMn/Ta multilayer studied by anisotropic magnetoresistance and planar Hall effectThanh, N. T.; Tu, L. T.; Ha, N. D.; Kim, C. O.; Kim, CheolGi; Shin, K. H.; Rao, B. Parvatheeswara
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