DSpace at KIST: 고분자 표면분석을 위한 비행시간형 이차이온 질량분석(TOF-SIMS) 기술

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	이연희	-
dc.date.accessioned	2024-01-21T13:06:29Z	-
dc.date.available	2024-01-21T13:06:29Z	-
dc.date.created	2022-01-10	-
dc.date.issued	2000-12	-
dc.identifier.issn	1225-0260	-
dc.identifier.uri	https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/140859	-
dc.publisher	한국고분자학회	-
dc.title	고분자 표면분석을 위한 비행시간형 이차이온 질량분석(TOF-SIMS) 기술	-
dc.type	Article	-
dc.description.journalClass	3	-
dc.identifier.bibliographicCitation	고분자 과학과 기술 = Polymer science and technology, v.11, no.6, pp.798 - 805	-
dc.citation.title	고분자 과학과 기술 = Polymer science and technology	-
dc.citation.volume	11	-
dc.citation.number	6	-
dc.citation.startPage	798	-
dc.citation.endPage	805	-
dc.subject.keywordAuthor	TOF-SIMS	-
dc.subject.keywordAuthor	polymer	-
dc.subject.keywordAuthor	surface	-

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