DSpace at KIST: 삼차원 표면 형상 측정을 위한 웨이블렛 변환 기반 레이저 라인 검출 방법

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Lee, Sung-An	-
dc.contributor.author	Lee, Deuk hee	-
dc.date.accessioned	2024-01-12T02:47:24Z	-
dc.date.available	2024-01-12T02:47:24Z	-
dc.date.created	2023-02-14	-
dc.date.issued	2023-02-10	-
dc.identifier.uri	https://pubs.kist.re.kr/handle/201004/76496	-
dc.language	Korean	-
dc.publisher	사단법인 한국CDE학회	-
dc.title	삼차원 표면 형상 측정을 위한 웨이블렛 변환 기반 레이저 라인 검출 방법	-
dc.title.alternative	Robust line detection using wavelet transform for 3-D laser scanning	-
dc.type	Conference	-
dc.description.journalClass	2	-
dc.identifier.bibliographicCitation	한국CDE학회 2023 동계학술대회	-
dc.citation.title	한국CDE학회 2023 동계학술대회	-
dc.citation.conferencePlace	KO	-
dc.citation.conferencePlace	휘닉스 평창 호텔	-
dc.citation.conferenceDate	2023-02-06	-
dc.relation.isPartOf	한국CDE학회 학회지	-

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