Showing results 1 to 2 of 2
Issue Date | Title | Author(s) |
---|---|---|
- | CSM(Coherent Scattering Microscope) system development for next generation EUV photomask inspection | 박한용; 김용수; 성하민; 김점술; 이승범; 조현우; 이주한; Kim, Yong Tae; Jhon, Young Min |
2016-02 | 고차조화파 생성 기반의 Coherent EUV 광원 개발 및 출력 특성 | 박한용; 김용수; 김영희; 성하민; 김점술; 이주한; Park, Min-Chul; Jhon, Young Min |