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Issue Date | Title | Author(s) |
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1998-05 | Electrostatic bonding between Si and ITO-coated #7059 glass substrates | 주병권; 정회환; 김영조; 한정인; 조경익; 오명환 |
1996-01 | Study on formation of W-silicide in the doped-phosphorus poly-Si/SiO//2/Si-substrate. | 정회환; 주병권; 오명환; 정관수 |
1998-04 | 전계 방출표시기 기술 개발 동향 | 주병권; 오명환; 정회환; 이남양 |
1995-03 | 직접접합된 실리콘 기판쌍에 있어서 계면 산화막의 상태와 이의 새로운 평가방법 . | 주병권; 이윤희; 정회환; 정관수; D. B. Murfett; M. R. Haskard; 차균현; 오명환 |