Browsing byAuthorByun, J. S.

Jump to:
All A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
  • Sort by:
  • In order:
  • Results/Page
  • Authors/Record:

Showing results 1 to 8 of 8

Issue DateTitleAuthor(s)
2013-11-29Analytic representation of the dielectric functions of InAsxSb1-x alloys in the parametric modelHwang, S. Y.; Kim, T. J.; Byun, J. S.; Barange, N. S.; Diware, M. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Yoon, J. J.; Song, J. D.
2014-09Dielectric functions and interband transitions of InxAl1 (-) P-x alloysKim, T. J.; Hwang, S. Y.; Byun, J. S.; Aspnes, D. E.; Lee, E. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C.; Park, H. G.; Choi, J.; Kim, J. Y.; Kang, Y. R.; Park, J. C.; Kim, Y. D.
2011-09-01Dielectric response of AlP by in-situ ellipsometryJung, Y. W.; Byun, J. S.; Hwang, S. Y.; Kim, Y. D.; Shin, S. H.; Song, J. D.
2009-06-08Dielectric response of AlSb from 0.7 to 5.0 eV determined by in situ ellipsometryJung, Y. W.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Shin, S. H.; Song, J. D.
2009-05-01Ellipsometric analysis of porous anodized aluminum oxide filmsJung, Y. W.; Byun, J. S.; Woo, D. H.; Kim, Y. D.
2013-03-11Interband transitions and dielectric functions of InGaSb alloysKim, T. J.; Yoon, J. J.; Byun, J. S.; Hwang, S. Y.; Aspnes, D. E.; Shin, S. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C.; Barange, N. S.; Kim, J. Y.; Kim, Y. D.
2009-11-30Observation of new critical point in InxAl1-xAs alloy using spectroscopic ellipsometryYoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kang, Y. J.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D.
2008-04-14Optical properties of InxAl1-xAs alloy filmsYoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D.

BROWSE