Showing results 1 to 8 of 8
Issue Date | Title | Author(s) |
---|---|---|
2013-11-29 | Analytic representation of the dielectric functions of InAsxSb1-x alloys in the parametric model | Hwang, S. Y.; Kim, T. J.; Byun, J. S.; Barange, N. S.; Diware, M. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Yoon, J. J.; Song, J. D. |
2014-09 | Dielectric functions and interband transitions of InxAl1 (-) P-x alloys | Kim, T. J.; Hwang, S. Y.; Byun, J. S.; Aspnes, D. E.; Lee, E. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C.; Park, H. G.; Choi, J.; Kim, J. Y.; Kang, Y. R.; Park, J. C.; Kim, Y. D. |
2011-09-01 | Dielectric response of AlP by in-situ ellipsometry | Jung, Y. W.; Byun, J. S.; Hwang, S. Y.; Kim, Y. D.; Shin, S. H.; Song, J. D. |
2009-06-08 | Dielectric response of AlSb from 0.7 to 5.0 eV determined by in situ ellipsometry | Jung, Y. W.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Shin, S. H.; Song, J. D. |
2009-05-01 | Ellipsometric analysis of porous anodized aluminum oxide films | Jung, Y. W.; Byun, J. S.; Woo, D. H.; Kim, Y. D. |
2013-03-11 | Interband transitions and dielectric functions of InGaSb alloys | Kim, T. J.; Yoon, J. J.; Byun, J. S.; Hwang, S. Y.; Aspnes, D. E.; Shin, S. H.; Song, J. D.; Liang, C. -T.; Chang, Y. -C.; Barange, N. S.; Kim, J. Y.; Kim, Y. D. |
2009-11-30 | Observation of new critical point in InxAl1-xAs alloy using spectroscopic ellipsometry | Yoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kang, Y. J.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D. |
2008-04-14 | Optical properties of InxAl1-xAs alloy films | Yoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D. |