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Browsing byAuthorGhong, T. H.

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2009-06-08Dielectric response of AlSb from 0.7 to 5.0 eV determined by in situ ellipsometryJung, Y. W.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Shin, S. H.; Song, J. D.
2009-11-30Observation of new critical point in InxAl1-xAs alloy using spectroscopic ellipsometryYoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kang, Y. J.; Kim, Y. D.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D.
2008-04-14Optical properties of InxAl1-xAs alloy filmsYoon, J. J.; Ghong, T. H.; Byun, J. S.; Kim, Y. D.; Aspnes, D. E.; Kim, H. J.; Chang, Y. C.; Song, J. D.
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